HAST试验箱半导体高压加速老化试验

作者：林频仪器发布日期：2023-11-29 16:23　

HAST试验箱是一种常用的半导体高压加速老化试验设备，用于模拟高温高湿环境下的老化情况。HAST是英文"Humidity-Accelerated Stress Test"的缩写，意为湿度加速应力测试。该试验箱可以在短时间内模拟出长时间高温高湿环境下的老化情况，以评估半导体器件的可靠性和寿命。

HAST试验箱通常具有以下特点：

1. 高温高湿环境：能够提供高温高湿环境，通常温度范围为100°C至150°C，湿度范围为85%至100%RH。

2. 高压加速：通过加入高压氮气，可以加速水分进入器件的速度，从而加速老化过程。

3. 试验样品容量：试验箱通常具有多个试验槽，可以同时测试多个样品，提高效率。

4. 自动控制系统：具有温度、湿度、压力等参数的自动控制和监测功能，可以确保试验过程的稳定性和准确性。

5. 安全保护措施：具有过温保护、过湿保护、压力保护等多种安全保护措施，确保试验过程的安全性。

HAST试验箱是半导体行业中常用的加速老化试验设备，可以帮助厂商评估产品的可靠性和寿命，提前发现潜在的问题，并采取相应措施进行改进。