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HAST试验箱与高低温试验之间的不同之处

作者：林频仪器发布日期：2023-04-19 13:43　

如今，在集成电路IC领域内，环境可靠性测试设备主要有HAST试验箱和高低温试验箱这两个，但是为什么HAST试验箱能够成为集成电路IC可靠性测试的佳选呢？它们的区别又在哪里，我们一起来看一下。

HAST试验箱与高低温试验之间的不同之处

　
　一、这是因为HAST试验箱是结合温湿度、压力条件的高加索试验，在高压条件下加速湿气渗透到外部保护物料和金属导电层之间的界面渗入，本测试是用于识别封装内部的失效机制而且是破坏性的。

　二、高低温试验箱能分为多个测试项目，有高低温运行测试、高低温交变测试、温度冲击测试等等。虽然能测试的项目很多，但是可测试集成电路IC在不同温度条件下的使用寿命。

　三、单一的温湿度测试不够准确的测试产品在气压下的使用情况。但是HAST试验箱测试集温度-湿度-压力(非饱和可调)一体，多方面测试集成电路IC，评估产品的失效机制。

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